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1
Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S
A.K. HEAD
,
P. HUMBLE
,
L.M. CLAREBROUGH
,
A.J. MORTON and C.T. FORWOOD (Eds.)
dislocation
crystal
dislocations
vector
foil
values
computed
vectors
diffracting
experimental
fault
plane
diffraction
micrograph
burgers
contrast
programs
planes
step
micrographs
displacement
elastic
column
intensity
crystals
generalised
stacking
thickness
electron
matching
constants
distance
onedis
shown
partial
axis
technique
obtained
rkm
faults
cases
extinction
corresponding
parallel
zero
theoretical
defects
orientation
twodis
cubic
साल:
1973
भाषा:
english
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english, 1973
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